XT-150D克服了模拟晶体阻抗计功能单一、可靠性差,读数不直观的缺点,采用最新技术,自带频率和频差(ppm)测量功能,等效电阻,负载电容和静电容数字化显示。可以设定频差上下限,对合格品,仪器会语音告知测试者,减轻了劳动强度,提高了工作效率,是一项高品质的智能化产品。 主要测试项目: 1.晶体的串联谐振频率FS。 2.晶体的负载谐振频率FL。 3.晶体的串联谐振电阻RR。 4.晶体的负载谐振电阻RL。 5.晶体的静电容C0。 6.晶体的负载电容CL。 7.晶体的频差ppm或KHz。 技术指标: 1.晶体频率测量范围:3―――60MHz。 2.等效电阻测量范围:0―――200Ω。 3.静电容测量范围: 0―――20PF。 4.负载电容的调整范围:10―――40PF。 5.激励电平的调整范围:10―――500uW。 6.晶体等效电阻的测量误差:≤5%。 7.激励电平误差: ≤50%。 8.工作温度范围: +15―――+35℃。 9.时基稳定度(10MHz):5×10-7 10.电源电压: 220Vac +/-10%。 11.功耗:≤15W。