北京风云泰科技术有限公司

◆提高内置精度◆频率范围30kHz~6GHz◆集成化S参数测试装置◆集成化1Hz分辨率合成信号源◆可选用时域测量和扫描谐波测量◆达110dB的动态范围◆可测量群延迟和与线性相位的偏离◆对内置磁盘驱动器的存储/调用      HP 8753D射频网络分析仪HP 8753D 射频网络分析仪以低廉的价格为实验室和生产测试提供了优越的RF网络测量设备。它具有集成化的S参数测试装置，延长了校准间隔期、提高了可靠性并改善了抗静电放电能力。HP 8753D以比以往其它型号的测试设备更低的价格为分析30kHz~6GHz的有源或无源网络、器件与元件特性提供了完整的解决途径。网络分析仪有2个独立的显示通道，供同时显示反射和传输、幅度和相位或供时域和扫频测量。便于使用的预编程按键使你能迅速访问各个测量功能，你可以在高分辨率彩色显示器上以重叠或分离屏面的形式观察测量结果。  最佳的通用性和性能集成化的合成信号源提供达10mW的输出功率（选件011为100mW）、1Hz频率分辨率和线性、对数、列表和连续波扫描类型。三个调谐接收机允许在6GHz上（利用选件006频率扩展），在105dB的宽动态范围或在3GHz上在100dB的宽动态范围内（标准情况）进行独立功率测量或同时进行的比值测量。集成化测试装置允许在不使用倍频器的情况下，对工作到6GHz的器件进行传输和反射特性测量。 为了在非同轴系统中进行方便而精确的测量，特增加了TRL*/LRM*1校准。高稳定度的频率基准（选件1D5）提高了对高Q器件，如表面波（SAW）谐振腔或介质谐振滤波器的频率测量精度。  提高效率测试时序功能允许一次来迅速、反复执行复杂的任务。在时序工作方式下，只需从面板测量一次，分析仪便能储存键入，以致无需额外编程，还可以利用测试时序经并行端口对外部装置进行控制。另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格式的内置磁盘驱动器、更快的CPU时钟速率、512kB非易失存储器、串行和并行接口，DIN键盘接口以及对打印输出和文件提供时间记录的实时时钟。还包括极限测试、任意频率测试和标记跟踪功能。分段校准和内插误差修正能提高分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量精度。  非线性器件的测试为了表征非线性器件的特性，选件002增加了谐波测量功能。可以直接或以dBc 显示放大器的扫描、二次和三次谐波电平。按动一个按钮，即可测量达-40dBc的谐波。功率计校准向对绝对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的绝对功率。HP8753D自动对HP436A、437B或438A功率计进行控制，使在测试系统中任何处的功率都调到具有功率计的精度。分析仪还完成混频器统调和变频损耗测量。还能进行固定IF和扫描IF测量。  时域分析利用选件010，能观察在时域中的响应。该分析仪对频域数据的快速傅氏逆变换（FFT）进行计算，以显示反射系数或传输系数随时间变化的关系。两种时域分析方式能观察器件的阶跃响应或冲击响应或除去一些不希望的响应，如利用选通来除去接头失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-传输线和传输线-反射-匹配校准技术的三取样器执行方式。  技术指标摘要测试装置集成化S参数测试装置以50Ω（标准）或75Ω（选件075）提供完满的正向和反向测量。外部测试装置由选件011提供。测试端口输出频率特性范围：30kHz~3GHz（标准）；30kHz~6GHz（选件006）分辨率：1Hz精度：±10ppm（在25℃±5℃时）输出特性功率范围：-85~10dBm分辨率：0.05dB电平精度：±1.0dB（相对于0dB m输出电平）电平线性：（-15~+5dBm）±0.2dB m（典型值）30kHz~300kHz；（+5 ~ +10dBm）±0.5dBm（典型值） 30kHz ~ 300kHz阻抗：50Ω二次谐波：在+10dBm处< -25dBc（16MHz ~ 3GHz）三次谐波：在+10dBm处< -25 dBc（16MHz ~ 2GHz）非谐波寄生信号（典型值）与混频器有关的非谐波寄生信号：在+10dBm处< -30dBc测试端口输入特性频率范围：30kHz~3GHz（标准）；30kHz~6GHz（选件006）平均噪声电平3kHz BW：-82dBm（< 3GHz）-77dBm（3 ~ 6GHz）10Hz BW：-102dBm（< 3G Hz），-97dBm（3 ~ 6GHz）最大输入电平：+10dBm损坏电平：±26dBm或35Vdc阻抗：50Ω（用选件075时为75Ω）谐波：（选件002）二次谐波：在+8dBm处为< -15dBc三次谐波：在+8dBm处为< -30dBc谐波测量精度（在25℃±5℃时）：16MHz ~ 3GHz：±1dB3GHz ~ 6GHz：±3dB（带选件006）谐波测量动态范围：-40dBc（输出=-10dBm，输入< -15dBm）群延迟特性范围：1/（2×最小孔径）孔径（可以选择的）最大：频率间隔的20% 最小：（频率间隔）/（点数-1）群延迟精度（单位为秒）：±（相位精度）（单位为度）/（360×孔径（Hz））结构特性尺寸：425mm（宽）×222mm（高）×508mm（长）重量：净重34公斤  专用测试装置HP8753D选件K35双工器测试适配器能对发射机、接收机和天线端口上的回波损耗和发射机至天线、天线至发射机、接收机至天线和天线至接收机端口的插入损耗进行一次性连接的误差修正测量。对于要求进行发射机至接收机和接收机至发射机测量的应用场合，建议使用选件K39三端口测试装置。  附件HP86205A/86207A射频电桥HP86205A/86207A高方向性射频电桥在各种各样的通用应用场合中均能提供无与伦比的性能。它们特别适用于精确的反射测量和信号稳幅应用。  技术指标摘要

  HP86205AHP86207A阻抗50Ω75Ω频率范围300kHz ~ 6GHz300kHz ~ 3GHz方向性30dB，0.3MHz ~ 5MHz40dB，5MHz ~ 2GHz30dB，2GHz ~ 3GHz20dB，3GHz ~ 5GHz16dB，5GHz ~ 6GHz30dB，0.3MHz ~ 5MHz40dB，5MHz ~ 1.3GHz35dB，1.3GHz ~ 2GHz30dB，2GHz ~ 3GHz耦合度（< 3GHz）16.0dB，+0.15dB/GHz（> 3GHz）16.5dB，-0.20dB/GHz插入损耗1.5dB，+0.1dB/GHz最大输入25dBm射频连接器50Ω N型（阴）75ΩN型（阴）结构特性尺寸：93mm（高）×160mm（宽）×23mm（长）重量：净重0.57公斤  校准配件HP8753D的校准配件包含在提高精度过程中使用的一些精密标准件，用以表征HP8753D测量系统的系统误差。  HP85032B 50Ω N型校准配件HP85032B校准配件包括用来校准HP8753C的50ΩN型标准件及其用于测量具有50ΩN型接头器件的50Ω测试装置的精密50ΩN型标准件。还包括对不可插入器件进行精确测量的精密相位匹配的7mm转50ΩN型适配器。标准件包括具有阴、阳接头的固定终端负载、开路器和短路器。  HP85032E 50Ω N型经济校准配件HP85032E校准配件包括N型（阳）固定终端负载和一体化的N型（阳）开路器/短路器。这套配件的频率范围为DC~6GHz。  HP85036B 75Ω N型校准配件HP85036B 75ΩN型校准配件包括用来校准HP8753C的精密75ΩN型标准件及用于测量具有75ΩN型接头器件的75Ω测试装置。标准件包括具有阴、阳接头的固定终端负载、开路器和短路器。还包括对不可插入器件进行精确测量的精密相位匹配的适配器。  订货信息HP8753D网络分析仪，30kHz~6GHz集成化网络分析仪具有内置彩色显示器，S参数测试装置，磁盘驱动器和30kHz~3GHz合成信号源。标准的50Ω型有两个7mm测试端口。Opt 002 谐波测量功能Opt 006 6GHz频率扩展Opt 010 时域功能Opt 075 75Ω阻抗Opt 1D5 高稳定度频率基准HP85032B 50ΩN型校准配件HP85032E 50ΩN型经济校准配件HP85036B 75ΩN型校准配件  升级配件HP86205A 50Ω电桥HP86207A 75Ω电桥HP8753DOpt K36 双工器测试适配器Opt K39三端口测试装置适配器