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镀层测厚仪 X-Strata920系列

镀层测厚仪X-Strata920系列，属于X射线荧光镀层厚度测量仪，广泛应用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析；是各类电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。

镀层测厚仪X-Strata920系列具有高性价价比，有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量精准、测量时间短等特点；具有高生产力、高再现性，能有效控制产品质量，节约电镀成本。

镀层测厚仪X-Strata920工作特点：

l 测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin

l 快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果

l 可定性、半定量和定量分析

l 进行贵金属检测，如Au karat评价

l 材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析

l 强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图

l 结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等

l 测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍

l 激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦

仪器参数

型号

P920-S

P920-MWS

P920-MWM

P920-AM

名称

半自动

自动台

固定台

单准直器加深台

多准直器加深台

样品图片

测量元素范围

Ti²²——-U⁹²

镀层和成分分析

l 镀层：最多同时测定5层（4层镀层+基体材料）镀层

l 成分：最多同时测量25种元素

测量方法

l Smar