孔、面铜测厚仪  CMI700系列
 
CMI760是CMI700系列专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计;采用微电阻和电涡流方式测量表面铜和孔内镀铜厚度。具有多功能性、高扩展性和先进的统计功能,统计功能用于数据整理分析。
 
型号
CMI760
CMI760E
备注
名称
台式面铜测厚仪
台式孔、面铜测厚仪
标配
l 700 SERIES主机及证书
l SRP-4面铜探头(内含SRP-4探针)
l NIST认证的面铜标准片及证书
l 700 SERIES主机及证书
l SRP-4面铜探头(内含SRP-4探针)
l NIST认证的面铜标准片及证书
l ETP孔铜探头
l NIST认证的ETP标准片及证书
SRP-4探针又称水晶头
选配
l SRG软件:数据不可编辑
l SRGD软件:带数据库
700 SERIES主机参数:
 
l 存 储 量:8000字节,非易失性
l 尺      寸:长×宽×高292.1×270×140mm
l 重      量:2.79Kg
l 电      源:AC220V
l 单位转换:通过一个按键实现英制和公制的自动转换
l 单      位:可选mils 、μm、μin、mm、in或%为显示单位
l 接      口:RS-232 串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机
l 显      示:带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏,480(H)×32(V)象素
l 统计显示:测量个数,标准差,平均值,最大值,最小值
深圳市鼎极天电子有限公司
发布与
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