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日本大冢积分球光通量测试系统

大塚电子（Otsuka Electronics)，是世界知名光谱测量公司，在光测量领域具有30多年的专业经验，专为全球客户提供高精度、高稳定性的光学检测设备。大塚电子的客户涵盖上千家LED、LCD 相关生产企业、大学、研究单位及检测机构。大塚电子在2010财年收入8千万美元，是日本、韩国、台湾LED/LCD检测设备的标杆企业。

系统功能

　  　由大塚电子集成的本系统是专业满足于照明光源的综合性能测试系统。可测量的参数包括照明光源或灯具的：光通量，光谱分布，色度特性（CCT Ra x，y u，v 等等）、电参数（电压、电流、功率，功率因数），光效（用于能效评估的核心参数）等，该系统在照明光源或灯具光源的光、电、色参数的测试方面具有突出的优势。

系统所符合的部分国际及国内测试标准：

※GB 25991-2010                汽车用LED前照灯

※GB 15766.1-2000/IEC 60809：1995      道路机动车辆灯丝灯泡尺寸、光电性能要求

※GB/T 26178-2010            光通量的测量方法

※GB/T 26180-2010            光源显色性的表示和测量方法

※GB/T 7922                        照明光源颜色的测量方法

※GB/T 24824-2009            普通照明用LED模块测试方法

※ECE R37 关于机动车及其挂车灯具认证用灯丝灯泡认证的统一规定

※ANSI C78.377-2008        Specifications for the Chromaticity of Solid State LightingProducts

※CIE Pub. No. 13.3-1995  Method of Measuring and Specifying Color Rendering of Light Sources

※CIE 15: 2004                      Chromaticity and Correlated Color Temperature

※IESNA LM-16                        Correlated Color Temperature

※IESNA LM-58-94                  Color Rendering Index and Correlated Color Temperature

※IESNA LM-79-08                  Electrical and Photometric Measurements of Solid-State Lighting Products

测定参数

测定波长范围：360～830ｎｍ（3683C）

光谱数据，色品参数等

测定光通量范围：35000lm

光源功率等

光效值（光源能效评估的参数）

系统组成及构成图

1.系统构成：

对应不同的测试光源，比如荧光灯，高压钠灯，LED球泡灯等等，按光源所发出的光通量大小以及功率大小，可选配不同尺寸的积分球来满足测试的需求。

2.系统结构示意图

具体性能参数

1.MCPD-9800高精度光谱仪特性

光谱仪采用多项专利技术（CN1444722A， CN1541331A），杂散光是一般光谱仪的1/5。

采用世界顶级的日本滨松薄型背照式(Back-thinned)面阵CCD，拥有极高的灵敏度和信噪比，最短曝光时间为5毫秒；

CCD采用背照及制冷式设计，制冷温度低至-10℃，有效降低了热噪音，保证了系统的稳定性。

光谱仪配置高性能中性滤光片（ND filter），多种量程测量模式，拥有业内领先的动态检测范围（1000000:1），可满足多种测量需求（从微弱的荧光到5000W的大功率光源）

采用多核缠绕的特殊光纤，测量信号不随光纤移动或入射光方向改变而发生漂移，有效降低了不同样品测试时的系统误差。

光纤配有特殊的信号处理盒，有效过滤了入射光经过光纤时产生的噪音。

测试软件，可同时观测各种参数，使用简单。

采用耐腐蚀合金外壳，结构紧凑，方便耐用。

具体参数请见下表：

　　光谱仪          MCPD 9800-VIS

　　探测器  TE Cooled 1024X122 CCD

　　致冷  -10±0.05℃

　　光谱范围  360 - 830 nm

　　光栅规格  f=85.8mm 448grooves/mm

　　曝光时间:  5 msec - 20 msec

                            (option:5msec to 65 sec)

　　ND 滤光片:  OD1-2

　　分辨率  0.5 nm (1024ch) <