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宇时超声波测厚仪UM-2的详细介绍
宇时超声波测厚仪UM-2详细介绍：
总述：
UM-2宇时超声波测厚仪，分辨力0.01mm，超声波测厚仪具有最小厚度值捕捉模式，可选择显示当前厚度值或最小厚度值；数据存储；具备报警功能。

宇时超声波测厚仪UM-2技术参数: 

工作原理 
脉冲～回波方式

测量范围 
0.8～300mm
取决于所用探头、所测材料、表面状况

单位和显示分辨率 
毫米-0.01，0.1
英寸-0.001，0.01

探头零点校准
一点校准（用于常规的厚度测量）
两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度）

V路径修正 
自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度

示值误差 
 ±0.05mm  (10mm以下)
±0.5% H+0.01  (10mm以上)
注：H为被测物厚度

重复性 
±0.05mm

显示屏 
128×64点阵液晶屏（42×57毫米）
具有EL背光，可调节对比度
厚度值数字高度可达13.75毫米

测量刷新频率 
常规测量时4Hz，最小值扫查时25Hz

材料声速范围 
1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us

数据存储 
划分5个数组，可存储500个厚度值

工作语言 
中文、英文

电源 
两节1.5VAA电池
当电池电量不足时，有低电压提示

操作时间 
两节5号电池，使用时间可达200小时

自动关机 
5分钟无操作后自动关机

工作温度 
-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃

尺寸 
149mm×73mm×32mm (H×W×D)

重量 
含电池200g

标准配置 
UM系列测厚仪
标配探头
仪器箱
两节碱性电池
耦合剂
操作手册
合格证
装箱单

选配件
橡胶外套；众多可供选择的探头；校准用阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂