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适用于光学、半导体及FPD应用—岛津UV-VIS-NIR分光光度计 是一款顶级的高灵敏度分光光度计，可进行深紫外区检测，具备大样品室，可满足光学、半导体及FPD在以下方面的检测需求。 FPD： 材料评估中NIR和大样品的高灵敏度测定。 半导体： 短波长激光和12英寸晶片整体表面的深紫外区测定。 光通信： 减反射膜NIR高灵敏度测定。 光学： 从DUV到NIR再到大样品的高灵敏度分析。 SolidSpec-3700/3700DUV特点 高灵敏度 SolidSpec-3700和3700DUV是第一台使用3个检测器的分光光度计：光电倍增管（PMT）探测器检测紫外区和可见光区，近红外区使用InGaAs 和 PbS检测器。InGaAs 和 PbS检测器的使用使得近红外区域的灵敏度显著增强。 深紫外区检测 SolidSpec-3700DUV具有检测深紫外区的能力，可测定至165nm或175nm的积分球。此检测是用氮气吹扫光室和样品室进行的。注： 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光单元DDU-DUV测定）的最短波长。 大样品室 大样品室（900W x 700D x 350H mm) 可在不损伤大样品的前提下进行检测。其垂直光路可直接测量大样品同时保持它们的水平状态。使用自动X-Y样品台（选配）测定样品的尺寸是12英寸或310��310mm。 联系人 区经理 电话 13823581593 QQ 2868059266 地址 深圳市福田区八卦三路88号荣生大厦702室 固定电话：0755-25870896 网址 www.ges-tech.cn