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[供应]EDX3600K 能散X荧光光谱仪(价格面议)
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  • 更新日期:2014-11-26 11:14:45
  • 有效期至:2015-05-25
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EDX3600K 能散X荧光光谱仪(价格面议) 详细信息

X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)一体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。 EDX 3600K X荧光光谱仪最大的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到国际先进水平。 应用领域 专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。 同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。 性能优势 1.超低能量分辨率,轻元素检测效果更佳 使用大面积铍窗电致冷SDD探测器,探测器分辨率最低达到139eV,各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线 性、良好的能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。 2. 测试精度更高,检出限更低 ①专业化的样品腔设计,带可调速的自旋样品腔,能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响,提高样品的测试精度。 ②采用超小超真空的样品腔设计,保证测试时达到10Pa以下,使设备的测试范围可从F元素起测试,大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。 3. 分析速度更快,从第1秒即可得到定性定量结果 采用自主研发的数字多道技术,其最大线性计数率可达100kcps,可以更加快速的分析,从第1秒就可以得出定性定量结果, 设计成高计数率,大大提高了设备的稳定性。 4. 一键式智能化操作 专业软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,使操作简易,对操作人员限制小的特点。 5. 强大的自动化功能 ①自动化程度高,具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。 ②采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。 6. 强度校正法 具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。 7. 完善的光路系统 自主研发的光路系统,光程更短,光路损失更少,激发效果更佳。 8. 三重安全防护功能 三重安全防护功能,自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安全罩。 9. 安全警示系统 警告指示系统,通电时绿色指示灯亮,测试时黄色辐射指示灯闪烁,防止误操作。 仪器配置 铍窗电制冷SDD探测器 自旋式样品腔 高效超薄窗X光管 信噪比增强器SNE 超近光路增强系统 可自动开启的测试盖 自动切换型准直器和滤光片 真空腔体 自动稳谱装置 90mm��70mm的液晶屏 最先进的数字多道技术 多变量非线性回归程序 相互独立的基体效应校正模型 技术参数 型号:EDX3600K X射线源:50KV、1mA 样品腔体积:

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