性能特点 1. 使用一体化微型端窗X光管,大面积Si-PIN探测器,具有高信噪比的电子线路单元,使仪器具有与台式X荧光光谱仪相当的测试性能; 2. 样品腔为封闭圆形结构,具有良好的射线屏蔽性能; 3.四组可方便切换的滤光片,使仪器不论全元素分析还是ROHS检测,对应各种基材测量不同的元素,都能得到理想的效果; 4.主机使用PDA掌上电脑,使用无线蓝牙连接,轻巧方便,测试数据尽在掌中; 5. 包装箱与仪器一体化设计,紧固防水,对恶劣野外环境也能应付自如; 6. 大容量锂电池供电,仪器可独立工作足够长时间,也使用交流转直流适配器,连接交流电源工作。 技术指标 元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 分析含量一般为ppm到99.9%。 可测试镀层厚度最薄至0.05um。 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回归程序。 多次测量重复性可达0.1%。 长期工作稳定性为0.1%。 标准配置 与仪器一体化设计的包装箱。 四组可切换滤光片。 激光定位装置。 带铅屏蔽罩封闭样品腔。 SI-PIN探测器。 信号检测电子电路。 一体化微型端窗X光管。 无线蓝牙连接PDA掌上电脑。 自带充电电路的大容量锂电池和交流转直流适配器。 外观尺寸: 359��247��173 mm(带箱) 315��188��129 mm(不带箱) 样品腔尺寸:137��122��35 mm 重量:9Kg 应用领域 水文调查 镀层测定 镀液分析 地质探矿 考古研究 联系人 区经理 电话 13823581593 QQ 2868059266 地址 深圳市福田区八卦三路88号荣生大厦702室 固定电话:0755-25870896 网址 www.ges-tech.cn