HTRS-1000高温半导体材料电阻率测试仪|北京精科智创科技发展有限公司|技术开发、技术

载入中……

[供应]HTRS-1000高温半导体材料电阻率测试仪

点击图片放大

产品产地：
产品品牌：
包装规格：
产品数量：0
计量单位：
产品单价：0
更新日期：2023-11-15 11:55:39
有效期至：2024-11-14
收藏此信息

HTRS-1000高温半导体材料电阻率测试仪详细信息

HTRS-1000高温半导体材料电阻率测试仪

HTRS-1000

型高温半导体材料电阻率测试仪

主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于半导体材料硅（si）、锗（ge），化合物半导体材料砷化镓(GaAs)、锑化铟（InSb），三元化合物半导体GaAsAl、GaAsP，固溶体半导体，如Ge-Si、GaAs-GaP等的块体材料的电阻率测量等材料的电阻率测量。

一、主要技术参数：

温度范围：RT-1000℃

升温斜率：0-10℃/min(典型值：3℃/min)

控温精度：±0.5℃

电阻测量范围：0.1mΩ~1MΩ

电阻率测量范围：100nΩ..cm~100KΩ.cm

测量环境：惰性气氛、还原气氛、真空气氛

测量方法：四线电阻法

测试通道：单通道

样品尺寸：10mmx10mmX20mm或φ＜20mm，d＜5mm

电极材料：上电极半圆型铂金电极，下电极平板型铂金电极

绝缘材料：99氧化铝陶瓷

数据存储格式：TXT文本格式

数据传输：USB

符合标准：ASTM

供电：220V±10%，50Hz

工作温度：5℃至+40℃；

存储温度：–40℃至+65℃

工作湿度：+40℃时，相对湿度高达95%（无冷凝）

设备尺寸：400x450x580mm

重量：38kg

北京精科智创科技发展有限公司发布与 HTRS-1000高温半导体材料电阻率测试仪 相关的产品
GWST-1000型高温四探针综合测试系统 YDH-1型压电电荷测量仪 PRPM-1000热释电系数高温测试系统 JKZC-ST4型半导体材料数字式四探针测试仪 CBC-1200炭黑含量测试仪 ZJ-3A/B/J型压电测试仪（静压电系数d33测量仪）