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射频阻抗计量器具检定系统


代替：高频阻抗量值传递系统


射频阻抗计量器具检定系统


本检定系统适用于射（高）频集总参数阻抗计量器具（即检测20kHz-1GHz频段的R，L，C元件和材
料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件），规定了射频（习惯上也称高频）集总参数阻抗量的量值
溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。


一、计量基准器具
1、高频集总参数阻抗的国家计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻抗量值（包括
电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率）的计量设备和量具。


2、射（高）频集总参数阻抗计量基准器具包括：
2.1空气介质同轴线阻抗基准，其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用
校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻抗国家基准，本检
定系统移用它，有利于射（高）频、微波阻抗量值的统一。


在（1-1000）MHz频段，其技术指标为：
反射系数模值｜г｜：1.000±0.002；
相角：±180°±0.5°。


2.2高频阻高频阻抗精密测量装置，它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪，


经过准确度论


证分析，保证高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能：


频率：（1-1000）MHz
反射系数模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
相角θ：±180°±0.5°；
阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
电容C：10pF-100nF±(0.2-10)%
电感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
损耗：tgδ（D）0.001-0.5±<(0.002-0.05)




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