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牛津仪器（Oxford）公司创建于1959 年，在X射线荧光镀层测厚仪技术领域拥有超过35年研发和制造经验，其生产的CMI900型X射线荧光镀层测厚仪，具有非破坏、非接触、多层合金测量、高重现性、高准确度等特点，厚度测量精度可达0.01微米；可检测元素范围从22号元素Ti到92号元素U；可同时测定5层镀层，同时测量15种元素；可做贵金属检测，如Au karat评价；可应用于材料和合金元素分析、材料鉴别和分类检测；可应用于液体样品分析，如镀液中的金属元素含量检测；广泛应用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，五金电镀，装饰件电镀，连接器电镀、钢丝绳电镀等多个行业，在镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 等各方面，从质量管理到不良品分析都有着广泛的应用。