深圳一通检测有限公司

跌落试验 
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[ 项目详细介绍 ]  
本试验通常是主要用来模拟未包装/包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落，考察产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面（如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定）。

对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同，对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品(如手机）则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。
参考的测试标准：GB/T 2423.8，ISTA，IEC60068-2-32，GB-T4857.5等。

 设备相关参数：

  最大负载:500Kg        


最大跌落高度：1000mm
 

 
   
  
 
地 址：深圳市南山区西丽镇官龙村第一工业区18A栋三楼 电话：0755-86114499 传真：0755-86114466