IC自动烧录测试机AT3-310
河洛厦门IC自动烧录测试机AT3-310(I8o46=oo=33)从各该模块完成IC取放并启动烧录/测试,到下次再轮到该模块的IC取放,其间所需的时间 (亦即机台处理其他模块IC取放所需的时间)。当IC的烧录/测试时间小于机台作业周期时,作业当中不会有待机现象,可获得最大产出效能。
性能卓越:系统可架设和cāo作多种不同的进出料装置,以因应Tray、Tube、Tape等不同包装的IC。同一系统即可兼具IC烧录/测试、带上打印以及包装转换3种功能。智能型cāo作:在功能强大的软件控.制下,自动化的多颗取放系统可进行一连串的IC进料、轻取、定位、摆放、烧录、分类、打印、出料等一贯化作业。