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SMM-200罐盖刻线检测仪，采用显微镜测量技术，测量罐盖刻线深度和剩余厚度。采用超高清晰度
CCD摄像系统，通过在显示器上显示罐盖刻线凹槽底部的清晰图像来方便定位，测量数据准确可靠、重现
性好！罐盖装夹在一个2维工作台上，方便定位和测量。配置进口数显千分表，精度达到1um (0.001mm)。
其测量原理是采用显微镜对焦测量法，显微镜得到图像清晰表明对焦正确，显微镜焦点的位置高低变
化反映了“罐盖刻线”的深浅。采用硬质合金制造的球形的下测量头半径很小，显微镜对焦在下测量头，
将数显千分表调零，放入罐盖，调整显微镜焦点，当在显示器上显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线
剩余厚度。放入罐盖，将显微镜对焦罐盖上表面（刻线边沿），调零，调整显微镜焦点，当在显示器上
显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线深度。
技术参数
样品盖类型：RP、SOT、EO
测量范围: 0-10mm
分度 : 1μm（0.001mm）
重现性 : 2μm (0.002mm)
镜头工作距离: 8 .2mm
放大倍数：
尺寸 : 250 x 300m x 600 mm
重量 : 15 kg