深圳沃德尔流体技术有限公司

      纳米激光粒度分析仪从光源发出的两束频率相同、相位一致的激光束，在测试区域相交，在两个检测器上得到两份相似的光强信号的涨落变化，两份光强信号涨落变化相同的部分为颗粒的实际光强信号，而不相同的部分则是干扰信号，被滤除。光电倍增管将相同的真实的颗粒信号送给相关器处理，相关器将处理结果输送给计算机，得出最后的测试报告。
    纳米激光粒度分析仪的特点：
    双光束，双检测器同时作用，只选择颗粒真正产生的单散射信号部分，去除干扰信号，降低对环境的要求；纳米激光粒度分析仪可直接测量荧光物质，带颜色的物质；测试结果与样品的浓度、样品池的位置无关，降低测试过程中的人为操作误差，纳米激光粒度分析仪通过双光源过滤掉噪音信号，降低对环境的要求；测试时间为2-5分钟，测试过程中实时动态显示光强波动和粒度大小；纳米激光粒度分析仪通过计算机软件自动调节样品池的位置，得到最精确的测量结果；根据被测颗粒的大小，可通过计算机自动调节激光源的输出功率。
    纳米激光粒度分析仪优化的光路结构
    1．光路采用透镜后傅立叶变换结构，最大接收角不受傅立叶镜头口径限制。
    2．光源采用He-Ne气体激光发射器，相比于其他的激光发射器具有单色性好、相干性高、发散角小、稳定性强等优点，同时采用一体化激光发射器专利设计（专利号：00228952.0），有效降低了激光管热变形、外界机械振动对仪器稳定性的影响。
    3．对于激光发射器，除进行输出功率值的传统检测外，还增加输出功率稳定性试验，以保证仪器的测试性能。
    4．纳米激光粒度分析仪采取滤波平滑处理技术，降低激光管功率波动对测量的影响。
    5．增加后向探测器，扩展测量下限到0.1微米。
    6．纳米激光粒度分析仪探测器阵列采用独有的大角散射光的球面接受技术（专利号：95223756.3），主探测器采用对称大角扇形设计，接收面积大，分布更加合理科学，受光更充分，侧向探测器为多片组合依据球面呈弧形分布，排列在透镜焦面上，保证了大角散射光的精确聚焦，保证了样品散射光能的准确获取。
    纳米激光粒度分析仪先进的数据采集及处理技术
    1．纳米激光粒度分析仪采用8通道同时采样16位ADC(模拟/数字转换器)，帧数据采样率高达1kHz。
    2．采用64通道同时采样技术和超低泄露电流采样保持开关，满量程精度高达0.15%。
    3．纳米激光粒度分析仪具备电背景补偿功能，有利于获得更加准确的光能数据。
    为保护作者权益，特注明出处：http://www.bettersize.net/bettersize-SonList-1098878/，如有不妥，请联系作者删除！