膜厚检测
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电镀层的厚度测量方法分破坏性测量和非破坏性测量两大类。
属于破坏性测量的方法有计时液流法,点滴测厚法,库仑法,金相法等,属于非破坏性的测量方法有磁性法,涡流法,β射线反向散射法,X-ray法,扫描电镜法等。
镀膜厚度检测标准:ASTM?E376-06 ,ASTMB659-08,ASTMB499-09,DINENISO2178-1995,GB/T4956-2003,GB/T4957-2003
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