上海柏毅试验设备有限公司

技术参数：

设备名称：冷热冲击试验箱

              型号：B-TS-602

系统符合MIL  STD，GB，GJB，JIS，JEDEC，IEC等测试标准.

其中的部分标准如下：

GB11158-2008高温试验箱技术条件

GB10589-2008低温试验箱技术条件

GB10592-2008高低温试验箱技术条件（温度交变）

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法  试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法  试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法  试验N:温度变化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验

GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：低温试验

GJB150.5-1986温度冲击试验

1冲击范围：-65~150℃

2蓄热区温度范围：+80~200℃

3  蓄冷区温度范围：-30~-80℃

4  测试区温度范围：

        高温：+60~150℃

        低温：0~-65℃

5  温度偏差：  ±2.0℃

6  温度恢复时间：5分钟内 

7  转换时间：8秒内

8  负载：10KG

9  冲击方式：三箱式

上海柏毅根据多年和半导体行业的客户接触总结了一下。半导体行业做冷热冲击试验是最常做的冲击条件。据此测试条件为半导体行业量身定制了几款专用设备。如果有兴趣欢迎来电详谈021-39506091/59592605