深圳市禾苗分析仪器有限公司是一家以最权威的卤素检测仪、国产镀层测厚仪和镀层测厚仪器为主要业务的公司。我们致力于提供有优质的X荧光光谱仪服务。深圳市禾苗分析仪器有限公司成立于2012-06-05,作为一家社会责任感强的公司,禾苗分析将依托强大的实力,在膜厚仪x2034d9n领域内树立最具口碑的品牌形象。
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延伸拓展
产品详情:膜厚测试仪校准方法
膜厚测试仪校准方法
1仪器校零
1.1将测量探头压在铁基上(或不带涂层的测量体上),沧州欧谱再轻按一下校零键ZERO进行校零。在按ZERO键时,测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意,只有在按完ZERO键后,才能提起探头,否则,校零不正确。
1.2将测量探头提起(或不带涂层的测量体上),观察铁基上的测量值,若测量值在0附近,说明校零成功,否则,应得新校零。
2仪器校满度
2.1根据要测量的涂层厚度,选择 适当的标准膜片,进行满度校准。
2.2先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量体上)。
C2.3再将测量探头压在标准膜片上,测量值就显示在显示器上,若测量值与标准膜片不同,测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时,测量探头一定提起,否则,按加1键或减1键无效。
2.4为保证校满度的准确性,可通过多次测同一标准膜片来验证。
   “诚信务实、开放创新”是深圳市禾苗分析仪器有限公司团队服务的宗旨,禾苗分析的团队将继续秉承“精诚合作、服务第一”的永恒理念,总结经验,快速发展与更多的业内人士共同打造更具价值的RoHS检测服务平台;并为广大客户提供高效、全方位的仪器仪表产品及服务。了解更多公司服务详情,请来电咨询:0755-96219363,或登录公司官网:heleex。