深圳市禾苗分析仪器有限公司

   深圳市禾苗分析仪器有限公司是一家以ROHS测试仪的区别在哪、膜厚仪x2034d9n和合金分析仪为主要业务的公司。我们致力于提供有优质的国产镀层测厚仪服务。深圳市禾苗分析仪器有限公司成立于2012-06-05，作为一家社会责任感强的公司，禾苗分析将依托强大的实力，在镀层测厚仪器领域内树立最具口碑的品牌形象。

   创新是深圳市禾苗分析仪器有限公司成功的基石。在未来，禾苗分析也希望不断地创新，为广大顾客提供XRF服务。多年来，禾苗分析始终相信只有坚持创新和专业，才能更好的满足客户对xrf报告的需求。 延伸拓展 详情介绍：膜厚测试仪校准方法 膜厚测试仪校准方法 1仪器校零 1．1将测量探头压在铁基上（或不带涂层的测量体上），沧州欧谱再轻按一下校零键ZERO进行校零。在按ZERO键时，测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意，只有在按完ZERO键后，才能提起探头，否则，校零不正确。 1．2将测量探头提起（或不带涂层的测量体上），观察铁基上的测量值，若测量值在0附近，说明校零成功，否则，应得新校零。 2仪器校满度 2．1根据要测量的涂层厚度，选择 适当的标准膜片，进行满度校准。 2．2先将标准膜片放在铁基上（或不带涂层的测量体上）。 C2．3再将测量探头压在标准膜片上，测量值就显示在显示器上，若测量值与标准膜片不同，测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时，测量探头一定提起，否则，按加1键或减1键无效。 2．4为保证校满度的准确性，可通过多次测同一标准膜片来验证。

   禾苗分析商务依据专业知识用心研究仪器仪表的每个项目方案，争取实现做一个项目，树一个口碑。仪器仪表项目经历都承载着一份真诚，记载着一份荣誉。禾苗分析员工始终实践着“工作认真、深入人心”的人文理念和工作作风。以上内容只是禾苗分析仪器仪表项目的部分信息，想要了解更多内容，请来电咨询：0755-96219363，或登录公司官网：heleex。