深圳市禾苗分析仪器有限公司

   深圳市禾苗分析仪器有限公司是一家以最热门的卤素检测仪、国产镀层测厚仪和XRF为主要业务的公司。我们致力于提供有优质的镀层测厚仪器服务。深圳市禾苗分析仪器有限公司成立于2012-06-05，作为一家社会责任感强的公司，禾苗分析将依托强大的实力，在X荧光光谱仪领域内树立最具口碑的品牌形象。

   深圳市禾苗分析仪器有限公司坚持走社会效益、经济效益与环境效益并重的企业发展之路，立足于商务服务行业，努力追求管理技术创新，不断拓展服务领域，积极营造温馨的文化氛围，为您提供高性价比的RoHS检测产品，并树立禾苗分析禾苗HELEEX品牌形象。 延伸拓展 产品详情：膜厚测试仪校准方法 膜厚测试仪校准方法 1仪器校零 1．1将测量探头压在铁基上（或不带涂层的测量体上），沧州欧谱再轻按一下校零键ZERO进行校零。在按ZERO键时，测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意，只有在按完ZERO键后，才能提起探头，否则，校零不正确。 1．2将测量探头提起（或不带涂层的测量体上），观察铁基上的测量值，若测量值在0附近，说明校零成功，否则，应得新校零。 2仪器校满度 2．1根据要测量的涂层厚度，选择 适当的标准膜片，进行满度校准。 2．2先将标准膜片放在铁基上（或不带涂层的测量体上）。 C2．3再将测量探头压在标准膜片上，测量值就显示在显示器上，若测量值与标准膜片不同，测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时，测量探头一定提起，否则，按加1键或减1键无效。 2．4为保证校满度的准确性，可通过多次测同一标准膜片来验证。

   禾苗分析秉承“顾客至上，锐意进取”的经营理念，坚持“客户第一”的原则为广大客户提供优质的镀层测厚仪器、元素分析仪x2034d9n等产品和服务。欢迎广大客户惠顾！官网地址：heleex