深圳市禾苗分析仪器有限公司

   深圳市禾苗分析仪器有限公司，是一家集膜厚仪x2034d9n、XRF为一体的综合型现代化企业，为广大客户奉献专业、高品质的膜厚分析仪专营机构。

   深圳市禾苗分析仪器有限公司致力于通过X荧光光谱仪的不断创新和运用，努力创建业内更加高品质的服务。禾苗分析在任重道远的前进征途上，真诚欢迎广大用户及合作伙伴与我们一起携手同进，共创辉煌。 延伸拓展 详情介绍：膜厚测试仪在什么条件下测量更准确 基体金属特性 对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。 基体金属厚度 检查基体金属厚度是否超过临界厚度，无损检测资源网如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。 边缘效应 不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。 曲率 不应在试件的弯曲表面上测量。 读数次数 通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。 表面清洁度 测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。 膜厚测试仪自制铁基情况及方法 膜厚测试仪在一些精确测量时需用户自制铁基，这样测量情况主要有以下几种： a、测量精度要求甚高； b、材质（或导磁率）与仪器铁基相差甚远； c、工件几何形状复杂； d、工件厚度在2mm以下。 用下述方法自制铁基: a、用与被测工件厚度相同、材质相同的刚才做成方形或圆形铁基，沧州欧谱要求表面平整光洁、无涂层或锈蚀，尺寸不小于本仪器所具备铁基尺寸； b、用已清除污物、表面光洁、无涂层的工件毛坯做铁基。以同种工件毛坯作铁基校正是最好的方法。详情参考沧州欧谱检测仪器有限公司膜厚测试仪仪器使用说明书。

   深圳市禾苗分析仪器有限公司将继续秉持“创新、执着、责任、共赢”的企业核心价值观，通过不断提升禾苗分析仪器仪表的服务能力，在发挥自身优势的同时，塑造具有吸引力的平等、开放、包容、快乐的企业文化！更多公司详情介绍，敬请拨打热线：0755-96219363，或登录公司官网：heleex。