深圳市禾苗分析仪器有限公司

   禾苗分析专注于ROHS测试仪的研发、设计、生产，提供各类光谱仪x2034d9n、膜厚分析仪、卤素检测仪，品类齐全、技术领先、性价比高，目前公司已在国内核心城市设立常驻销售与服务网点。详情请咨询张先生18319999072。

   创新是深圳市禾苗分析仪器有限公司成功的基石。在未来，禾苗分析也希望不断地创新，为广大顾客提供膜厚分析仪服务。多年来，禾苗分析始终相信只有坚持创新和专业，才能更好的满足客户对最常用的XRF的需求。 延伸拓展 详情介绍：膜厚测试仪校准方法 膜厚测试仪校准方法 1仪器校零 1．1将测量探头压在铁基上（或不带涂层的测量体上），沧州欧谱再轻按一下校零键ZERO进行校零。在按ZERO键时，测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意，只有在按完ZERO键后，才能提起探头，否则，校零不正确。 1．2将测量探头提起（或不带涂层的测量体上），观察铁基上的测量值，若测量值在0附近，说明校零成功，否则，应得新校零。 2仪器校满度 2．1根据要测量的涂层厚度，选择 适当的标准膜片，进行满度校准。 2．2先将标准膜片放在铁基上（或不带涂层的测量体上）。 C2．3再将测量探头压在标准膜片上，测量值就显示在显示器上，若测量值与标准膜片不同，测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时，测量探头一定提起，否则，按加1键或减1键无效。 2．4为保证校满度的准确性，可通过多次测同一标准膜片来验证。

   经过多年来的不懈努力，深圳市禾苗分析仪器有限公司形成了以仪器仪表服务为主导、集最常用的XRF与最新推出的卤素检测仪为一体的经营模式，铸造了一个“与时俱进、团结协作、勤奋敬业、开拓进取”的员工团队。在新的发展阶段，谋求更快、更大发展，需要禾苗分析传承者与时代同步、不断超越。更多公司服务详情，敬请拨打热线：0755-96219363，或登录公司官网：heleex。