禾苗分析专注于ROHS仪的研发、设计、生产,提供各类XRF、ROHS测试仪、合金分析仪,品类齐全、技术领先、性价比高,目前公司已在国内核心城市设立常驻销售与服务网点。详情请咨询张先生18319999072。
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延伸拓展
产品详情:膜厚测试仪校准方法
膜厚测试仪校准方法
1仪器校零
1.1将测量探头压在铁基上(或不带涂层的测量体上),沧州欧谱再轻按一下校零键ZERO进行校零。在按ZERO键时,测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意,只有在按完ZERO键后,才能提起探头,否则,校零不正确。
1.2将测量探头提起(或不带涂层的测量体上),观察铁基上的测量值,若测量值在0附近,说明校零成功,否则,应得新校零。
2仪器校满度
2.1根据要测量的涂层厚度,选择 适当的标准膜片,进行满度校准。
2.2先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量体上)。
C2.3再将测量探头压在标准膜片上,测量值就显示在显示器上,若测量值与标准膜片不同,测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时,测量探头一定提起,否则,按加1键或减1键无效。
2.4为保证校满度的准确性,可通过多次测同一标准膜片来验证。
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