深圳市禾苗分析仪器有限公司(禾苗分析)是一家专业从事X射线荧光光谱仪、RoHS仪器、镀层测厚仪的企业。自创办以来,禾苗分析一直追求专业、诚信、服务的企业理念,力争成为行业一流的服务企业。x2034d9n
   膜厚测试仪在什么条件下测量更准确
基体金属特性
对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,无损检测资源网如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
表面清洁度
测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
膜厚测试仪自制铁基情况及方法
膜厚测试仪在一些精确测量时需用户自制铁基,这样测量情况主要有以下几种:
a、测量精度要求甚高;
b、材质(或导磁率)与仪器铁基相差甚远;
c、工件几何形状复杂;
d、工件厚度在2mm以下。
用下述方法自制铁基:
a、用与被测工件厚度相同、材质相同的刚才做成方形或圆形铁基,沧州欧谱要求表面平整光洁、无涂层或锈蚀,尺寸不小于本仪器所具备铁基尺寸;
b、用已清除污物、表面光洁、无涂层的工件毛坯做铁基。以同种工件毛坯作铁基校正是最好的方法。详情参考沧州欧谱检测仪器有限公司膜厚测试仪仪器使用说明书。
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