深圳市禾苗分析仪器有限公司

   深圳市禾苗分析仪器有限公司是一家专注于商务服务、软件开发领域研发、生产、销售的高新技术企业，凭借强大的研发力量、严谨的生产管理经验以及“质量第一、信誉第一”的经营理念，成功地开发出一系列拥有各项专利的高质量产品，比如膜厚分析仪、XRFx2034d9n等。

   禾苗分析膜厚分析仪的优势在于能够全面深入地根据客户的实际需求和现实问题，及时准确地提供专业的解决方案。同时，公司始终密切关注商务服务、软件开发行业发展的最新动态，并与行业内知名企业建立了良好、长期稳定的合作关系，为客户提供最专业、最先进的ROHS仪。 延伸内容 产品详情介绍：膜厚测试仪校准方法 膜厚测试仪校准方法 1仪器校零 1．1将测量探头压在铁基上（或不带涂层的测量体上），沧州欧谱再轻按一下校零键ZERO进行校零。在按ZERO键时，测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意，只有在按完ZERO键后，才能提起探头，否则，校零不正确。 1．2将测量探头提起（或不带涂层的测量体上），观察铁基上的测量值，若测量值在0附近，说明校零成功，否则，应得新校零。 2仪器校满度 2．1根据要测量的涂层厚度，选择 适当的标准膜片，进行满度校准。 2．2先将标准膜片放在铁基上（或不带涂层的测量体上）。 C2．3再将测量探头压在标准膜片上，测量值就显示在显示器上，若测量值与标准膜片不同，测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时，测量探头一定提起，否则，按加1键或减1键无效。 2．4为保证校满度的准确性，可通过多次测同一标准膜片来验证。

   禾苗分析在全国建有强大的XRF、卤素检测仪售后服务网络，多名技术顾问及售后工程师遍及全国各地区，能为用户提供优质、高效的服务保证。禾苗HELEEX镀层测厚仪经多年市场验证，提供从报价到售后服务全程跟踪的一条龙服务，求购最具前景的XRF、卤素检测仪，选择禾苗分析，欢迎访问官网：heleex。