留坝722n可见分光光度计技术参数：●波长范围：190～1100nm●光谱带宽：2.0nm(5nm、1nm可选）●波长准确度：±0.5nm●波长重现性：≤0.2nm●透射比准确度：±0.3%τ(0～100%τ)±0.002A(0～0.5A

【激光系列产品】固体激光器半导体激光器气体激光器离子激光器光纤激光器大功率光纤耦合激光器皮秒激光器飞秒激光器调Q脉冲激光器激光二极管控制器激光功率计激光护目镜激光波长测量激光光束分析仪多通道激光功率计大功率激光器激光光束位置测量仪激光扩束

产品说明紧凑型荧光灯与管形荧光灯测试与测量选择系统测量紧凑型荧光灯效率的全面解决方案设计灵活FSLMS系统满足荧光灯和白炽灯的行业标准以及电气光度测试方法。该系统包括驱动灯的交流电和直流电的电子装置、用于灯和镇流器电气测试的功率计、用于测

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供应X射线荧光光谱仪（ROHS)通用型纳优NaU1000详细参数请来电咨询，电话：15899538701（徐先生）QQ:806043286产品名称：X射线荧光光谱仪（ROHS)产品型号：NaU1000品牌：纳优主要配置●美国si-pin电

产品说明9150：1.5米高分辨率单色仪技术规格设计车尔尼一特纳单人/双人传递输入焦距1500mm（单通）输出焦距1500mm（单通）波长选择高精度的波长选择机动正弦驱动器技术0.02nm(1200l/mm)光谱范围180nm-50μm扫

揭东可见分光光度计仪器功能：?光度测量可同时测量1～6个波长处的透过率和吸光度.?光谱测量在波长范围内进行透过率、吸光度和能量的图谱扫描,并可进行各种数据处理如峰谷检测、导数运算、谱图运算等.?定量测量单波长、双波长、三波长和多波长测定.

仪器介绍X射线荧光光谱仪（XRF）是我公司根据多年的RoHS检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成，该X射线荧光光谱仪（XRF）广泛应用在电

产品说明薄膜测量薄膜厚度新泽西SaltPoint公司开发的薄膜监测系统(TDS)，在宽带溶解率监测仪(DRM)中集成了一套海洋光学多通道光谱仪，用来分析半导体和光学工业中使用的超薄的抗蚀膜。DRM帮助客户确定膜层的厚度以及应用抗蚀膜后的材

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